文献

J-GLOBAL ID：201102220147233035   整理番号：11A0626619

ラインプロセスを用いた樹状突起の膜抵抗分布の統計的推定

著者 (7件)： 北園淳 (東大 大学院) ,  大森敏明 (東大 大学院) ,  大森敏明 (理研 脳総研) ,  青西亨 (東京工大 大学院) ,  青西亨 (理研 脳総研) ,  岡田真人 (東大 大学院) ,  岡田真人 (理研 脳総研)
資料名： 日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)
巻： 66  号： 1 第2分冊  ページ： 291  発行年： 2011年03月03日 
JST資料番号： S0671B  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *樹状突起 ,...
準シソーラス用語： *膜抵抗 ,...

ログイン（無料）して見る     このテーマを更に深掘りする（JDreamⅢへ）  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=11A0626619&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0671B") }}

分類 (1件)： 脳・神経系モデル  (EL02050C)

タイトルに関連する用語 (5件)： プロセス ,  樹状突起 ,  膜抵抗 ,  分布 ,  統計的推定