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J-GLOBAL ID：201102253120727414   整理番号：11A1873427

低周波磁気検査によるステンレス多層配管中の溶接部の検出

著者 (7件)： 林孝之 (岡山大) ,  林孝之 (パルステック工業) ,  川崎喜彦 (岡山大) ,  山田博信 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  玉積正司 (宇野工業) ,  塚田啓二 (岡山大)
資料名： 日本磁気学会学術講演概要集  (Abstracts. Annual Conference on Magnetics in Japan)
巻： 32nd  ページ： 405  発行年： 2008年09月12日 
JST資料番号： Y0056A  ISSN： 1882-2959  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *磁気検査 ,  *ステンレス鋼 ,  多層構造 ,  配管 ,  *溶接部 ,  渦電流検査 ,  磁気抵抗素子 ,  検出法
準シソーラス用語： 低周波

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 低周波 ,  磁気検査 ,  ステンレス ,  多層 ,  配管 ,  溶接部