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J-GLOBAL ID：201102272845667691   整理番号：11A0912234

電荷変調分光法・光第2次高調波発生法による有機FETの動作解析

Investigation of the organic FET operation by SHG and CMS measurements

著者 (4件)： 間中孝彰 (東京工大 大学院理工学研究科) ,  川島啓 (東京工大 大学院理工学研究科) ,  田中康之 (東京工大 大学院理工学研究科) ,  岩本光正 (東京工大 大学院理工学研究科)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 111  号： 4(SDM2011 1-13)  ページ： 25-30  発行年： 2011年04月08日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 我々は,有機トランジスタ(OFET)の新規評価法として光第2次高調波発生法(SHG)を提案し,有機FETにおけるチャネル形成や顕微分光による素子中の電界分布計測について提案してきた。その上で,このSHG測定に時間分解分光計測と高感度冷却CCDによるイメージングを組み合わせる(TRM-SHG)ことで,チャネル中電界の過渡変化を逐次画像化できるようになり,結果としてキャリアがFET素子中を流れる様子をイメージとして捉えることに成功した。一方で,材料中へのキャリア注入は材料の光学特性を変化させるため,吸収スペクトルを詳細に検討することで注入キャリアの情報を得ることができる。この手法は電荷変調分光法(CMS)と呼ばれ,我々はキャリア注入による変調信号を画像として捉えることで,デバイス中のキャリア分布の測定などに成功した。このように,従来電気的手法で評価されてきた電子デバイスに,光学的手法を用いることで,これまで得られなかった様々な情報を得ることが可能となる。本講演では,このSHGとCMSという光学的手法を有機FETに応用することで,実際にどのような評価が可能となるか概観する。(著者抄録)

シソーラス用語： *FET【トランジスタ】 ,  高調波 ,  *時間分解分光法 ,  第二高調波発生 ,  *画像処理システム ,  キャリア注入 ,  吸収スペクトル ,  キャリア捕獲 ,  ゲート【半導体】 ,  酸化膜 ,  ゲート絶縁膜 ,  化成皮膜
準シソーラス用語： *有機FET ,  SHG【高調波】 ,  キャリヤトラップ

分類 (3件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  分光法と分光計一般  (BD07041Q) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電荷変調分光法 ,  第2次高調波 ,  有機FET ,  動作解析