特許
J-GLOBAL ID：201103086412133043
自己位置計測方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 勇
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-144065
公開番号（公開出願番号）：特開2004-294421
特許番号：特許第4046186号
出願日： 2003年05月21日
公開日（公表日）： 2004年10月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 装置自体の移動前に対する移動後の自己位置を計測する方法であって、
移動前に、装置自体に備えられた位置測定手段にてあらかじめ定められた判断基準に基づいて周囲の複数の特徴点を選定し、それぞれの特徴点の相対位置を測定すると共に、装置自体に備えられた姿勢検出手段にて装置自身の姿勢情報を検出する移動前工程と、
移動後に、前記移動前工程にて選定した複数の特徴点と同一の特徴点をそれぞれ抽出し、前記位置測定手段にて各特徴点の相対位置を測定すると共に、前記姿勢検出手段にて装置自体の姿勢情報を検出する移動後工程と、
装置自体に備えられた演算手段を用いて、前記検出した姿勢情報から装置自身の移動前後における姿勢変化量である姿勢変化情報を算出すると共に、前記複数の特徴点毎に装置自体の移動前に対する移動後の自己位置を計測して、これら複数の計測値と前記姿勢変化情報とに基づいて最終的な自己位置を算出する演算工程とを備え、
前記演算工程が、算出した装置自体の移動前後における最終的な自己位置に関する値を前記演算手段に記憶し、
前記移動後工程及び前記演算工程は、前記演算工程によって装置自体の移動前後における自己位置が算出された後に繰り返し作動すると共に,その際に,直前に作動した前記移動後工程にて抽出された前記複数の特徴点を前記移動前工程にて選定した複数の特徴点とみなして作動し、
前記演算工程が、自己位置の測定を複数回行った後に、
これまでの自己位置に関する値に基づいて装置自体の移動後の自己位置を予測して予測自己位置を算出する予測値算出工程と、
前記複数の特徴点毎に計測した自己位置の各測定値と前記予測自己位置とを比較して,当該各特徴点毎にそのずれ量を算出する比較工程と、
前記複数の特徴点毎に計測した自己位置の各測定値に,前記各特徴点毎に算出した前記ずれ量に応じた重みを付けて最終的な自己位置を算出する最終自己位置算出工程と、
を備えたことを特徴とする自己位置計測方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01C 15/00 101
, G01C 15/00 104 C
