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J-GLOBAL ID：201202223480697118   整理番号：12A1437955

EFISHG測定によるフラーレン内部電界の直接測定

著者 (5件)： 田口大 (東京工大 理工) ,  住吉良太 (東京工大 理工) ,  CHEN X. (東京工大 理工) ,  間中孝彰 (東京工大 理工) ,  岩本光正 (東京工大 理工)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Meeting. Japan Society of Applied Physics (CD-ROM))
巻： 73rd  ページ： ROMBUNNO.12P-H1-4  発行年： 2012年08月27日 
JST資料番号： Y0055B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電場 ,  計測 ,  *第二高調波発生 ,  エネルギー変換効率 ,  *太陽電池 ,  *高分子薄膜 ,  有機半導体 ,  フラーレン ,  *透明電極 ,  *MIM構造 ,  積層構造 ,  窒素複素環化合物 ,  芳香族縮合化合物 ,  ポリアセン ,  内部電場 ,  直接測定 ,  有機太陽電池
準シソーラス用語： EFISHG ,  有機薄膜太陽電池

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

物質索引 (2件)： BCP ,  ペンタセン

タイトルに関連する用語 (3件)： フラーレン ,  電界 ,  直接測定