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J-GLOBAL ID：201202227388619351   整理番号：12A0590009

薄膜形状記憶合金の変態温度ハイスループット測定法

著者 (5件)： 川口龍太郎 (東京工大) ,  青野祐子 (東京工大) ,  桜井淳平 (東京工大 精密工研) ,  中光豊 (東京工大 精密工研) ,  秦誠一 (東京工大 精密工研)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 59th  ページ： ROMBUNNO.15P-GP3-9  発行年： 2012年02月29日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 薄膜 ,  *形状記憶合金 ,  *転移温度 ,  スループット ,  計測 ,  温度測定 ,  *サーモグラフィー ,  迅速測定
準シソーラス用語： 変態温度

分類 (2件)： その他の金属組織学  (WB01040Y) ,  金属相変態  (CB03020W)

タイトルに関連する用語 (5件)： 薄膜 ,  形状記憶合金 ,  変態温度 ,  ハイスループット ,  測定法