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J-GLOBAL ID：201202233787453220   整理番号：12A0065107

サーモグラフィによる薄膜アモルファス合金のハイスループット結晶化挙動解明法 I

著者 (4件)： 青野祐子 (東京工大 精密工研) ,  桜井淳平 (東京工大 精密工研) ,  下河辺明 (東京工大 精密工研) ,  秦誠一 (東京工大 精密工研)
資料名： 日本機械学会年次大会講演論文集(CD-ROM)  (日本機械学会年次大会(CD-ROM))
巻： 2011  ページ： ROMBUNNO.G040051  発行年： 2011年09月10日 
JST資料番号： X0587C  ISSN： 2424-2667  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： サーモグラフィー ,  *非晶質合金 ,  *スループット ,  *結晶化 ,  *金属薄膜 ,  性能評価 ,  *スクリーニング
準シソーラス用語： *アモルファス合金 ,  *ハイスループット

分類 (1件)： 金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (5件)： サーモグラフィ ,  薄膜 ,  アモルファス合金 ,  ハイスループット ,  結晶化挙動