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J-GLOBAL ID：201202250331446665   整理番号：12A0588664

軸対称偏光SHG顕微装置による有機デバイスの膜厚方向電界測定

著者 (5件)： 田口大 (東京工大) ,  間中孝彰 (東京工大) ,  岩本光正 (東京工大) ,  烏田哲州 (プレサイスゲージ) ,  京増幹雄 (プレサイスゲージ)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 59th  ページ： ROMBUNNO.17A-F10-2  発行年： 2012年02月29日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *有機半導体 ,  *太陽電池 ,  第二高調波発生 ,  *膜厚 ,  軸対称性 ,  偏光 ,  *キャリア移動度 ,  *可視化 ,  キャリア寿命 ,  面積 ,  *計測 ,  *電場 ,  フラーレン ,  電子系 ,  光学顕微鏡法 ,  電場測定 ,  電子雲
準シソーラス用語： 方向電界

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (6件)： 軸対称 ,  偏光 ,  SHG ,  有機デバイス ,  膜厚方向 ,  電界測定