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J-GLOBAL ID：201202269537596771   整理番号：12A0885491

温度可変広角X線回折散乱測定を用いた全芳香族ポリイミドの熱膨張率測定

著者 (3件)： 白田圭 (東京工大 大学院) ,  安藤慎治 (東京工大 大学院) ,  木村邦生 (岡山大 工)
資料名： 高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 61  号： 1  ページ： ROMBUNNO.2PF060  発行年： 2012年05月15日 
JST資料番号： Z0703C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *PMDAポリイミド ,  PMDA-ODA ,  *熱膨張係数 ,  熱膨張 ,  *X線回折 ,  結晶構造 ,  異方性 ,  熱可塑性プラスチック ,  構造効果 ,  結晶性高分子 ,  *広角X線回折 ,  体積膨張係数
準シソーラス用語： PMDA-BZ ,  PMDA-PDA

分類 (2件)： 高分子固体の物理的性質  (CG02024U) ,  その他の高分子材料  (YH07150C)

タイトルに関連する用語 (5件)： 可変 ,  広角X線回折 ,  散乱測定 ,  芳香族ポリイミド ,  熱膨張率