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J-GLOBAL ID：201302246565095335   整理番号：13A1758862

絶縁用樹脂の定量的かつ低侵襲な熱劣化評価法

著者 (4件)： 久保内昌敏 (東京工大) ,  ANH Tran Tuan (東京工大) ,  青木才子 (東京工大) ,  村木孝仁 (日立)
資料名： 高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 62  号： 2  ページ： ROMBUNNO.1S09  発行年： 2013年08月28日 
JST資料番号： Z0703C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *熱劣化 ,  *電気絶縁 ,  *絶縁材料 ,  エポキシ樹脂 ,  耐熱性 ,  *耐熱性高分子 ,  ATR分光法 ,  FTIR分光法 ,  電気部品 ,  酸無水物 ,  *絶縁体
準シソーラス用語： ATR-FTIR

分類 (3件)： 高分子の分解,劣化  (CG03010A) ,  高分子固体の物理的性質  (CG02024U) ,  エポキシ樹脂  (YH07040I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 絶縁 ,  定量 ,  低侵襲 ,  熱劣化 ,  評価法