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J-GLOBAL ID:201302257915316382   整理番号:13A1317646

陽電子消滅法による高分子の自由体積計測とその解釈

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巻:号:ページ: 17-21  発行年: 2013年07月17日 
JST資料番号: F1130A  ISSN: 2185-3215  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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陽電子消滅法は電子と陽電子の衝突によって生じるγ線を検出することで物質の性質を調べる方法で,高分子の自由体積測定においては陽電子と電子が平行スピンの状態で生じるオルトポジトロニウムの平均寿命が物質内の微細空孔のサイズに応じて変化することを利用する。本法で非破壊的に高分子の自由体積が測定でき,具体的な自由体積空孔サイズの測定および解析法として,22Naを使った寿命測定法を述べた。22Naは崩壊の確率が高いため線源として多用され,ポリイミドフィルムに密封した線源を2枚の高分子シートでサンドイッチ状として,1mmの厚みとして発生するγ線を光電子増倍管で計測して陽電子寿命の測定に用いられている。ポリ(メチルメタクリル酸),ポリカーボネートおよびポリ(フェニレンオキシド)の自由体積空孔サイズの測定,EVOHの酸素透過,ガスバリア評価結果と測定データ解析法を提示した。
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高分子固体の物理的性質 
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