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J-GLOBAL ID:201302260027996074   整理番号:13A0038223

EFI-SHG法によるフレキシブル有機トランジスタの特性評価:曲げ変形の効果

Analysis of flexible OFET characteristics by using EFI-SHG: the effect of bending
著者 (4件):
資料名:
巻: 112  号: 296(OPE2012 127-133)  ページ: 13-18  発行年: 2012年11月09日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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有機半導体層をTIPS-pentacene,ゲート絶縁膜をポリイミドとしたフレキシブルトランジスタを作製し,曲げ変形によるトランジスタ特性への効果を評価した。曲げ変形により引張り応力がトランジスタチャネル方向に働く場合は実効キャリア移動度が減少し,圧縮応力が働く場合は増大した。また,曲げ変形による実効キャリア移動度の変化を誘電体理論に基づいて考察し,ゲート絶縁膜の変形から予想されるよりも大きく変化していることを明らかにした。さらに顕微電界誘起光第2次高調波発生(EFI-SHG)法によりフレキシブルトランジスタのチャネル部のキャリア挙動の観察を行った。(著者抄録)
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トランジスタ 
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