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J-GLOBAL ID：201302263760048050   整理番号：13A1721030

放射温度計測によるプラスチック光ファイバ中の欠陥の高速検出

著者 (3件)： 林寧生 (東京工大 精密工研) ,  水野洋輔 (東京工大 精密工研) ,  中村健太郎 (東京工大 精密工研)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 74th  ページ： ROMBUNNO.17P-A8-11  発行年： 2013年08月31日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *グレーデッド形ファイバ ,  *放射温度計 ,  *伝送損失 ,  欠陥 ,  黒体放射 ,  ジャケット【構造物】 ,  温度依存性 ,  光伝搬 ,  欠陥検査 ,  光ファイバ製造 ,  電磁波 ,  波動
準シソーラス用語： *プラスチック光ファイバ

分類 (2件)： 光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H) ,  温度測定,温度計  (AD06010K)

タイトルに関連する用語 (4件)： 放射温度 ,  計測 ,  プラスチック光ファイバ ,  欠陥