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J-GLOBAL ID：201302282551127575   整理番号：13A1156982

波長走査光断層測定による低弾性定数材料の表面波測定

著者 (4件)： 加藤友佳子 (東京工大) ,  和田有司 (東京工大) ,  水野洋輔 (東京工大) ,  中村健太郎 (東京工大)
資料名： 超音波医学  (Japanese Journal of Medical Ultrasonics)
巻： 40  号： 2  ページ： 231  発行年： 2013年03月15日 
JST資料番号： Z0578A  ISSN： 1346-1176  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 会議録記事  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 超音波画像 ,...
準シソーラス用語： エラストグラフィー ,...

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分類 (1件)： 医療用機器装置  (GA05020L)

タイトルに関連する用語 (5件)： 波長 ,  走査 ,  断層 ,  弾性定数 ,  表面波