抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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ろう付け法によって作製されたS45C/Cu/Si3N4接合体の熱負荷試験を実施し,その疲労損傷を調査した。そして4点曲げ破壊試験により,熱負荷を受けたS45C/Cu/Si3N4接合体の機械的特性(残存強度,破断ひずみ,ヤング率)を評価した。実験結果より,機械的強度の低下は金属材料の酸化・硬化・クリープ,残留熱応力よりも主にCu中間層のき裂発生・進展に影響されることがわかった。またCu中間層のき裂発生・進展は熱負荷の繰返し数や熱応力範囲の大きさに影響されることがわかった。(著者抄録)