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J-GLOBAL ID：201302299191918789   整理番号：13A0852553

EFISHG法によるフレキシブルOFETの曲げ変形効果の解析

著者 (4件)： 阿部洋平 (東京工大 大学院) ,  田口大 (東京工大 大学院) ,  間中孝彰 (東京工大 大学院) ,  岩本光正 (東京工大 大学院)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 60th  ページ： ROMBUNNO.27P-G15-3  発行年： 2013年03月11日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *FET【トランジスタ】 ,  *有機半導体 ,  フレキシブル基板 ,  曲げ変形 ,  第二高調波発生 ,  キャリア輸送
準シソーラス用語： *OFET

分類 (2件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

タイトルに関連する用語 (3件)： OFET ,  曲げ変形 ,  解析