特許
J-GLOBAL ID：201403024313208500

偏磁、磁気飽和、もしくは磁束量の検出装置

発明者：
梅谷 和弘

梅谷 和弘 について


出願人/特許権者：
株式会社デンソー

株式会社デンソー について


代理人 (1件)： 名古屋国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-018642
公開番号（公開出願番号）：特開2014-150183
出願日： 2013年02月01日
公開日（公表日）： 2014年08月21日
要約：
【課題】コストの上昇や、磁心の強度の低下を抑えつつ、磁心に生じた偏磁を検出する。【解決手段】絶縁電源1におけるトランス10の磁心11は、角部11aの内周側と外周側には孔部11b,11cが形成されており、内周側孔部11bに巻き付けられた内周側検出巻線21と、外周側孔部11cに巻き付けられた外周側検出巻線22が設けられている。そして、検出装置20は、インバータ回路40により1次巻線12に正或いは負の電圧が印加されている電圧印加期間中、内周側或いは外周側検出巻線の誘導電圧を測定し、測定結果に基づき磁心11に生じている偏磁を検出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
巻き付けられたコイル(12,62,75d,82,92c)に電圧を印加することで磁束が形成された際に、磁束密度の偏りが生じる断面である不均一断面(11d,11i)が形成される磁心(11,61,71,81,92)における、該不均一断面に沿って該磁心を貫く孔部(11b,11c,11e,11f,11g,11h,61d,61e,71b,81b,92b)を貫通した状態で配されることで、該不均一断面の一部であって、該不均一断面全体の平均的磁束密度とは異なる磁束密度が生じる検出領域(11d-1,11d-2,11i-1,11i-2)の周縁を取り巻く電線からなる検出巻線(21,22,27,28)に誘導された検出用起電力に関する測定を行う検出巻線測定手段(24,S205,S255,S300〜S315,S375,S400,S450,S500,S550,S600)と、 前記検出巻線測定手段による測定結果に基づき、前記磁心に生じた偏磁もしくは磁気飽和、或いは、前記磁心の磁束量を検出する検出手段(S210,S265,S270,S325,S330,S380,S415〜S425,S455,S460,S510,S560,S610)と、 を備えることを特徴とする偏磁、磁気飽和、もしくは磁束量の検出装置。
IPC (2件)：
H01F 27/00 ,  H01F 27/42
FI (2件)：
H01F27/00 H ,  H01F27/42
引用特許：
審査官引用 (7件)
  • 特開昭59-061909
  • 変圧器の偏磁防止装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-060402   出願人：株式会社明電舎
  • 特開昭59-084412
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