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J-GLOBAL ID：201502206186728146   整理番号：15A1047184

光源の周波数変調を用いた干渉計光路差の測定

著者 (5件)： 島田俊平 (東京工大 精密工研) ,  閑誠 (東京工大 精密工研) ,  林寧生 (東京工大 精密工研) ,  水野洋輔 (東京工大 精密工研) ,  中村健太郎 (東京工大 精密工研)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 76th  ページ： ROMBUNNO.16A-1E-2  発行年： 2015年08月31日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *干渉計 ,  *光干渉法 ,  光源 ,  周波数変調 ,  歪測定 ,  温度測定 ,  光ファイバ ,  相関 ,  EDFA ,  分解能 ,  光相関 ,  光路差 ,  計測
準シソーラス用語： 周波数分解能

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 周波数変調 ,  干渉計 ,  光路差