文献

J-GLOBAL ID：201502207559598546   整理番号：15A1152474

CWレーザー背面照射法によるCaO-Al₂O₃-SiO₂ガラスの構造変化

著者 (5件)： 古閑哲人 (東京工大) ,  岸哲生 (東京工大) ,  矢野哲司 (東京工大) ,  比田井洋史 (千葉大) ,  岩下建樹 (千葉大)
資料名： 日本セラミックス協会秋季シンポジウム講演予稿集(CD-ROM)
巻： 28th  ページ： ROMBUNNO.3E15  発行年： 2015年09月01日 
JST資料番号： L2240B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 連続レーザ ,  *レーザ照射 ,  面 ,  微粒子 ,  屈折率 ,  酸化カルシウム ,  アルミナ ,  二酸化ケイ素 ,  化学組成 ,  *オーステナイト系ステンレス鋼 ,  金属箔 ,  濃度分布 ,  電子プローブX線分析 ,  *ケイ酸塩ガラス ,  *SUS304 ,  背面
準シソーラス用語： 電子プローブX線微小分析

分類 (1件)： ガラスの製造  (YC02020O)

タイトルに関連する用語 (6件)： CWレーザー ,  背面 ,  CaO ,  Al2O3 ,  SiO2 ,  ガラス