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J-GLOBAL ID：201502211522952702   整理番号：15A0517994

磁気センサアレイを用いた漏洩磁束法による裏面腐食欠陥検査

著者 (5件)： 芳賀勇太 (岡山大) ,  森田洪爾 (岡山大) ,  堺健司 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  塚田啓二 (岡山大)
資料名： 表面探傷シンポジウム講演論文集
巻： 18th  ページ： 77-80  発行年： 2015年03月09日 
JST資料番号： L7208A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *腐食 ,  *欠陥 ,  裏面 ,  漏れ磁束 ,  磁気センサ ,  アレイ ,  *非破壊検査

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 磁気 ,  センサアレイ ,  漏洩磁束法 ,  腐食 ,  欠陥検査