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J-GLOBAL ID：201502215973917817   整理番号：15A0184485

バッファー層の挿入によるマグネタイト薄膜の欠陥制御

著者 (6件)： 寺口健斗 (東京工大) ,  清水荘雄 (東京工大) ,  浜嵜容丞 (東京工大) ,  安井伸太郎 (東京工大) ,  谷山智康 (東京工大) ,  伊藤満 (東京工大)
資料名： セラミックス基礎科学討論会講演要旨集  (セラミックス基礎科学討論会講演予稿集)
巻： 53rd  ページ： 90  発行年： 2015年01月08日 
JST資料番号： L1357A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *セラミック膜 ,  バッファ層 ,  *欠陥 ,  制御 ,  電気抵抗率
準シソーラス用語： *マグネタイト

分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  その他の無機化合物の格子欠陥  (BK12050B)

タイトルに関連する用語 (4件)： バッファー層 ,  マグネタイト ,  薄膜 ,  欠陥