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J-GLOBAL ID：201502219886779439   整理番号：15A1046616

EFISHG法によるAu/pentacene/polyimide/IZO構造素子の初期電流消失前後のキャリア挙動評価

著者 (3件)： 田口大 (東京工大 理工) ,  間中孝彰 (東京工大 理工) ,  岩本光正 (東京工大 理工)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 76th  ページ： ROMBUNNO.15P-1G-2  発行年： 2015年08月31日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *キャリア ,  *固体素子 ,  *MIS構造 ,  電流電圧特性 ,  金 ,  ポリイミド ,  ポリアセン
準シソーラス用語： *有機デバイス

分類 (2件)： 固体デバイス材料  (NC03020K) ,  金属-絶縁体-半導体構造  (BM03085X)

物質索引 (1件)： ペンタセン

タイトルに関連する用語 (6件)： Au ,  構造素子 ,  初期 ,  キャリア ,  挙動 ,  評価