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J-GLOBAL ID：201602202610526852   整理番号：16A0282187

Si基板上GaInAsP/InP薄膜DFBレーザの初期信頼性

著者 (7件)： 福田快 (東京工大) ,  井上大輔 (東京工大) ,  平谷拓生 (東京工大) ,  雨宮智宏 (東京工大 量子ナノエレクトロニクス研究セ) ,  西山伸彦 (東京工大) ,  荒井滋久 (東京工大) ,  荒井滋久 (東京工大 量子ナノエレクトロニクス研究セ)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 63rd  ページ： ROMBUNNO.20P-S321-9  発行年： 2016年03月03日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *分布帰還形レーザ ,  リン化インジウム ,  ヒ化リン化インジウムガリウム ,  ウエハ【IC】 ,  *信頼性 ,  レーザ発振 ,  *光導波路 ,  半導体薄膜 ,  シリコンウエハ
準シソーラス用語： Si基板 ,  注入電流

分類 (1件)： 半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (6件)： Si基板 ,  GaInAsP ,  InP ,  薄膜 ,  DFBレーザ ,  初期