文献

J-GLOBAL ID：201602216101582602   整理番号：16A1327833

ゲル状絶縁体中の電界強度の光学的測定

著者 (5件)： 田中祐輔 (愛媛大学) ,  永岡祐二 (愛媛大学) ,  Jeon Hyeon-Gu (愛媛大学) ,  藤井雅治 (愛媛大学) ,  井堀春生 (愛媛大学)
資料名： 電気学会論文誌 C  (IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems)
巻： 136  号： 10  ページ： 1420-1421(J-STAGE)  発行年： 2016年 
JST資料番号： S0810A  ISSN： 0385-4221  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ゲル ,  *計測 ,  電場 ,  *光学的測定 ,  Kerr効果 ,  分布 ,  電磁場解析 ,  電位分布 ,  *電界強度 ,  *絶縁材料 ,  *絶縁体 ,  電界分布 ,  *電場測定
準シソーラス用語： *ゲル状絶縁体 ,  *電界測定

著者キーワード (6件)： ゲル ,  電界測定 ,  光学的測定 ,  gel ,  electric field ,  optical measurement

分類 (2件)： 絶縁材料  (NA04030W) ,  電磁気的量の計測一般  (AD07010R)

引用文献 (3件)：

• (1) M. Fujii et al.: “Pearl-chain-type Trees in Silicone Gel Under AC Voltage”, Jurnal Teknologi, Vol. 64, No. 4, pp. 59-62 (2013)
• (2) M. Sato et al.: “Surface discharges in silicone gel on AlN substrate”, IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul., Vol. 23, No. 1, pp. 494-500 (2016)
• (3) H. Ihori et al.: “Evaluation of space charge in liquid dielectric using kerr electrooptic method”, Proc. IEEE Conf. on 7th ISEIM, pp. 342-345, Niigata, Japan (2014)

タイトルに関連する用語 (4件)： ゲル ,  絶縁体 ,  電界強度 ,  光学的測定