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J-GLOBAL ID：201602217259304780   整理番号：16A0280469

蛍光顕微イメージングによるペンタセンFETにおける電荷分布評価

著者 (3件)： 間中孝彰 (東京工大 大学院) ,  安部健太郎 (東京工大 大学院) ,  岩本光正 (東京工大 大学院)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 63rd  ページ： ROMBUNNO.19A-P4-25  発行年： 2016年03月03日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *FET【トランジスタ】 ,  *有機半導体 ,  *電荷分布 ,  蛍光顕微鏡 ,  光学顕微鏡法 ,  蛍光スペクトル ,  スペクトル線強度 ,  分布 ,  ポリアセン ,  強度分布 ,  蛍光顕微鏡法
準シソーラス用語： *有機FET

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

物質索引 (1件)： ペンタセン

タイトルに関連する用語 (6件)： 蛍光 ,  イメージング ,  ペンタセン ,  FET ,  電荷分布 ,  評価