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J-GLOBAL ID：201602219027410551   整理番号：16A0482332

渦電流分布の可視化による表面下欠陥位置及び形状の推定

著者 (5件)： 馬島八世 (岡山大) ,  八杉拓也 (岡山大) ,  堺健司 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  塚田啓二 (岡山大)
資料名： 表面探傷シンポジウム講演論文集
巻： 19th  ページ： 15-18  発行年： 2016年03月17日 
JST資料番号： L7208A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 解析 ,  *渦電流検査 ,  電流密度 ,  *内部欠陥 ,  欠陥検査 ,  画像化
準シソーラス用語： 形状解析 ,  *渦電流探傷テスト

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 渦電流 ,  分布 ,  可視化 ,  欠陥 ,  推定