Mitsuhara M. について
NTT Device Technology Laboratories, NTT Corporation, 3-1 Morinosato-Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243-0198, Japan について
Watanabe N. について
NTT Device Technology Laboratories, NTT Corporation, 3-1 Morinosato-Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243-0198, Japan について
Yokoyama H. について
NTT Device Technology Laboratories, NTT Corporation, 3-1 Morinosato-Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243-0198, Japan について
NTT Device Technology Laboratories, NTT Corporation, 3-1 Morinosato-Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243-0198, Japan について
Shigekawa N. について
Graduate School of Engineering, Osaka City University, Osaka 588-8585, Japan について
Journal of Crystal Growth について
補償 について
MOCVD について
多重量子井戸 について
リン化物 について
ガリウム化合物 について
インジウム化合物 について
化合物半導体 について
半導体薄膜 について
緩和現象 について
バンドギャップ について
太陽電池 について
基板温度 について
透過型電子顕微鏡 について
層 について
膜厚 について
X線回折 について
光ルミネセンス について
歪補償 について
歪緩和 について
バリア層 について
A1. Characterization について
A3. Metalorganic molecular beam epitaxy について
B1. Phosphides について
B2. Semiconducting III-V materials について
半導体薄膜 について
半導体のルミネセンス について
太陽電池 について
GaAs について
有機金属分子線エピタキシー について
成長 について
歪補償 について
InGaP について
多重量子井戸 について
井戸 について
層厚 について
変調 について
歪み緩和 について