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J-GLOBAL ID：201602290260178624   整理番号：16A1063317

インピーダンス測定による半導体薄膜DFBレーザの帯域解析

著者 (11件)： 瓜生達也 (東京工大 工学院) ,  井上大輔 (東京工大 工学院) ,  平谷拓生 (東京工大 工学院) ,  福田快 (東京工大 工学院) ,  冨安高弘 (東京工大 工学院) ,  雨宮智宏 (東京工大 工学院) ,  雨宮智宏 (東京工大) ,  西山伸彦 (東京工大 工学院) ,  西山伸彦 (東京工大) ,  荒井滋久 (東京工大 工学院) ,  荒井滋久 (東京工大)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM)  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集(CD-ROM))
巻： 2016  号： ソサイエティ大会  ページ： ROMBUNNO.C-4-12  発行年： 2016年09月06日 
JST資料番号： G0508B  ISSN： 1349-144X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電気測定 ,  インピーダンス ,  *分布帰還形レーザ ,  半導体薄膜 ,  *周波数帯 ,  等価回路
準シソーラス用語： *電気インピーダンス測定

分類 (1件)： レーザ一般  (BD04030T)

タイトルに関連する用語 (5件)： インピーダンス測定 ,  半導体薄膜 ,  DFBレーザ ,  帯域 ,  解析