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J-GLOBAL ID：201702212746660845   整理番号：17A0551093

電界誘起光第二次高調波発生(EFI-SHG)法による異なるコンタクト構造によるキャリア注入特性変化の評価

著者 (4件)： 土屋春樹 (東工大 理工) ,  田口大 (東工大 理工) ,  間中孝彰 (東工大 理工) ,  岩本光正 (東工大 理工)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 64th  ページ： ROMBUNNO.17a-P5-21  発行年： 2017年03月01日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *第二高調波発生 ,  *キャリア注入 ,  電流電圧特性 ,  *素子構造 ,  キャリア移動度 ,  仕事関数 ,  電子注入
準シソーラス用語： *ボトムコンタクト

分類 (1件)： 半導体と絶縁体の電気伝導一般  (BM03041P)

タイトルに関連する用語 (8件)： 電界 ,  誘起 ,  二次高調波発生 ,  SHG ,  法 ,  コンタクト ,  キャリア注入 ,  評価