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J-GLOBAL ID：201702216212032173   整理番号：17A1153533

DA型共重合体配向膜における光学・電気的異方性の相関の評価

著者 (3件)： 土屋春樹 (東京工大) ,  田口大 (東京工大) ,  間中孝彰 (東京工大)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM)  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集(CD-ROM))
巻： 2017  号： ソサイエティ大会  ページ： ROMBUNNO.C-13-4  発行年： 2017年08月29日 
JST資料番号： G0508B  ISSN： 1349-144X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *薄膜 ,  異方性 ,  *転写 ,  *共重合体 ,  配向膜 ,  光学異方性
準シソーラス用語： *DA型共重合体配向膜 ,  *配向性薄膜 ,  *浮遊膜転写法 ,  *PDPP2T-TT-OD

分類 (2件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V) ,  共重合  (CG04030D)

タイトルに関連する用語 (6件)： 共重合体 ,  配向膜 ,  光学 ,  異方性 ,  相関 ,  評価