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J-GLOBAL ID:201702218166804701   整理番号:17A0430935

EFISHGおよびLBIC測定を用いた有機EL素子の顕微解析装置の開発

著者 (4件):
資料名:
巻: 137  号:ページ: 128-134(J-STAGE)  発行年: 2017年 
JST資料番号: S0808A  ISSN: 0385-4205  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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二層積層有機EL(IZO/α-NPD/Alq3/Al)素子について,磁区対称偏光パルスレーザによる顕微EFISHG(電界誘起光第二次高調波発生)測定による電界測定とLBIC(レーザ誘起光電流)測定による光電流測定を行うことができる測定系を作製し,二層積層有機EL素子の非発光部を含む発光面内での電荷挙動を評価した。その結果,数10ミクロンの解像度をもって電荷の局所的な挙動を解析できることが判明した。また,光電流分布と発光強度分布には関係性があり,非発光部では光電流が小さくなることが分かった。さらに,非発光部を含んだ発光面内のα-NPD層の電界強度と界面蓄積電荷の関係は負の関係性があり,α-NPD層の高抵抗化が生じていることも推察された。
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分類 (2件):
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有機化合物のルミネセンス  ,  発光素子 
引用文献 (20件):
  • (1) W. Brüting and Ch. Adachi : Physics of Organic Semiconductors, 2nd ed., Wiley-VCH, Weinheim (2012)
  • (2) T. Sekitani and T. Someya : “Ambient Electronics”, Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 51, No. 10R, pp. 100001/1-100001/13 (2012)
  • (3) Ch. Adachi : Device Physics, Material Chemistry and Device Application of Organic Light-Emitting Diodes, CMC Publishing, Tokyo (2012) (in Japanese)
  • 安達千波矢 監修:有機ELのデバイス物理・材料化学・デバイス応用, CMC出版, 東京 (2012)
  • (4) M. A. Lampert and P. Mark : Current Injection in Solids, Academic Press, New York (1970)
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