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J-GLOBAL ID：201702222770419498   整理番号：17A1151865

欠陥導入タングステン中の水素同位体滞留量に及ぼす炭素・ヘリウム照射影響

著者 (13件)： 東奎介 (静岡大 大学院) ,  戸苅陽大 (静岡大 大学院) ,  ZHOU Qilai (静大 理) ,  波多野雄治 (富山大 水素研) ,  吉田直亮 (九大 応用力学研) ,  近藤創介 (京大 エネ研) ,  檜木達也 (京大 エネ研) ,  島田雅 (アイダホ国研) ,  TAYLOR Chase N. (アイダホ国研) ,  BUCHENAUER Dean A. (サンディア国研) ,  KOLASINSKI Robert D. (サンディア国研) ,  近田拓未 (静岡大 大学院) ,  大矢恭久 (静岡大 大学院)
資料名： 日本原子力学会秋の大会予稿集(CD-ROM)  (日本原子力学会秋の大会(CD-ROM))
巻： 2017  ページ： ROMBUNNO.3O07  発行年： 2017年08月29日 
JST資料番号： S0818B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： タングステン中の水素同位体滞留挙動に及ぼす照射欠陥および炭素・ヘリウム照射影響を理解するため,鉄イオン照射タングステンに炭素,ヘリウムおよび重水素照射を行った。表面付近に存在するC-W混合層やヘリウムバブルの増加に伴って,バルク中の欠陥に捕捉される水素同位体が減少することが示唆された。(著者抄録)

シソーラス用語： *タングステン ,  *重イオン照射 ,  重イオンビーム ,  金属イオン ,  鉄化合物 ,  鉄 ,  計算機シミュレーション ,  *昇温脱離 ,  *重水素 ,  プラズマ対向材料 ,  イオン ,  ヘリウム ,  ホールドアップ ,  イオン注入 ,  保持 ,  鉄ビーム ,  ヘリウムイオン ,  重水素保持 ,  第一鉄イオン ,  計算機利用 ,  利用
準シソーラス用語： 鉄(II)イオン

分類 (1件)： 核融合装置  (BJ02083Z)

タイトルに関連する用語 (7件)： 欠陥 ,  タングステン ,  水素同位体 ,  滞留量 ,  炭素 ,  ヘリウム ,  照射影響