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J-GLOBAL ID：201702225580114174   整理番号：17A0340187

光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命診断

Non-destructive diagnostics for organic light-emitting diodes by using electric-field-induced optical second-harmonic generation

著者 (3件)： 田口大 (東京工大) ,  間中孝彰 (東京工大) ,  岩本光正 (東京工大)
資料名： 電気学会誘電・絶縁材料研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： DEI-17  号： 14-23  ページ： 47-52  発行年： 2017年02月22日 
JST資料番号： Z0908B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *発光ダイオード ,  *評価 ,  *寿命診断 ,  顕微分光分析 ,  絶縁破壊 ,  空間電荷 ,  光高調波発生 ,  *有機EL素子
準シソーラス用語： 顕微分光 ,  *非破壊評価

分類 (2件)： 有機化合物のルミネセンス  (BM08094A) ,  発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 有機EL素子 ,  寿命診断