文献

J-GLOBAL ID：201702232271683798   整理番号：17A0549124

ブラッグ波長デチューニングによるGaInAsP/InP薄膜DFBレーザのしきい値電流の温度依存性

著者 (8件)： 福田快 (東京工大) ,  井上大輔 (東京工大) ,  平谷拓生 (東京工大) ,  冨安高弘 (東京工大) ,  瓜生達也 (東京工大) ,  雨宮智宏 (東京工大) ,  西山伸彦 (東京工大) ,  荒井滋久 (東京工大)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 64th  ページ： ROMBUNNO.15p-422-12  発行年： 2017年03月01日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *分布帰還形レーザ ,  *ヒ化リン化インジウムガリウム ,  *リン化インジウム ,  同調 ,  温度依存性 ,  Bragg反射 ,  半導体薄膜 ,  *可変波長レーザ ,  Bragg波長 ,  閾値電流

分類 (1件)： 半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (8件)： ブラッグ波長 ,  チューニング ,  GaInAsP ,  InP ,  薄膜 ,  DFBレーザ ,  しきい値電流 ,  温度依存性