文献
J-GLOBAL ID:201702252030105720
整理番号:17A0606406
光電子回折によるAgドープBi2Se3の表面構造解析
-
出版者サイト
{{ this.onShowPLink() }}
複写サービスで全文入手
{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=17A0606406©=1") }}
-
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=17A0606406&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0671C") }}
著者 (5件):
,
,
,
,
資料名:
巻:
72
号:
1
ページ:
ROMBUNNO.17aC-PS-11
発行年:
2017年03月21日
JST資料番号:
S0671C
ISSN:
2189-079X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
,
,
,
,
,
,
,
,
,
分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体の表面構造
, 半導体の格子欠陥
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
,
,
,
前のページに戻る