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J-GLOBAL ID：201702254415613192   整理番号：17A0606225

黒リンにおける準粒子干渉

著者 (6件)： 町田理 (理研 CEMS) ,  高橋敬成 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  幸坂祐生 (理研 CEMS) ,  岩谷克也 (理研 CEMS) ,  花栗哲郎 (理研 CEMS) ,  笹川崇男 (東京工大 フロンティア創造共同研セ)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 1  ページ： ROMBUNNO.17aB12-3  発行年： 2017年03月21日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *黒リン ,  *干渉 ,  *バンド構造 ,  価電子バンド ,  伝導バンド ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  撮像 ,  角度分解分光法 ,  光電子分光法 ,  ポテンシャルエネルギー面 ,  化合物半導体 ,  半導体薄膜 ,  *準粒子干渉 ,  ARPES ,  ワイドギャップ半導体
準シソーラス用語： 価電子帯 ,  伝導帯 ,  分光イメージング ,  角度分解光電子分光 ,  ワイドバンドギャップ半導体

分類 (2件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  半導体結晶の電子構造  (BM02060N)

タイトルに関連する用語 (2件)： 黒リン ,  準粒子干渉