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J-GLOBAL ID：201702258300250092   整理番号：17A0246214

光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定

Nondestructive OLED diagnostics by using optical EFISHG technique

著者 (3件)： 田口大 (東京工大) ,  間中孝彰 (東京工大) ,  岩本光正 (東京工大)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 116  号： 446(ICD2016 100-117)  ページ： 59-64  発行年： 2017年01月23日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 電界誘起光第2次高調波発生法(光EFISHG法)は,有機材料・デバイス内部のキャリア挙動を光学的にプローブできる測定手法である。本手法により有機デバイスの絶縁破壊前駆現象として現れるキャリア挙動を検出することで,予めデバイスの電気的破壊を察知することが可能である。本稿では,積層膜型有機EL素子中のキャリア蓄積現象と素子中の電界分布について述べ,IZO/α-NPD/Alq3/Al構造素子の測定例を取り上げて破壊前駆現象として現れるキャリア挙動について紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *電場 ,  *誘導 ,  *第二高調波発生 ,  *発光ダイオード ,  *非破壊測定 ,  *寿命予測 ,  有機材料 ,  固体素子 ,  光プローブ ,  絶縁破壊 ,  多層膜 ,  蓄積 ,  分布 ,  キャリア蓄積 ,  *光誘起 ,  電界分布 ,  *有機EL素子
準シソーラス用語： 有機デバイス

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

引用文献 (23件)：

• T. Tsujimura, “OLED displays, fundamentals and applications”, Wiley, New Jersey, 2012.
• M. Iwamoto, T. Manaka, and D. Taguchi, (Topical Review Paper) Modeling and visualization of carrier motion in organic films by optical second harmonic generation and Maxwell-displacement current, J. Phys. D: Appl. Phys., vol. 48, 373001/1-20, 2015.
• 岩本光正,間中孝彰,田口大,(解説論文)“電界誘起光第2次高調波法による有機エレクトロニクス材料内のキャリア挙動の可視化技術”,電学論A,vol.136,no.11,pp.678-684,2016.
• M. Iwamoto, T. Manaka, and D. Taguchi, (Invited Review Paper) Probing and modeling of carrier motion in organic devices by electric-field-induced optical second-harmonic generation, Jpn. J. Appl. Phys., vol. 53, 100101/1-11, 2014.
• 田口大,間中孝彰,岩本光正,(解説論文)“電界誘起光第2次高調波法による有機半導体のキャリア挙動の解析技術”,光学,vol.44,no.3,pp.111-118,2015.

タイトルに関連する用語 (2件)： 有機EL素子 ,  寿命推定