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J-GLOBAL ID:201702277256816536   整理番号:17A1149370

薄膜を基板とするCMOSイメージングデバイスの脳機能計測に向けた実証

Demonstration of a thin-film-based CMOS imaging device for brain functional measurement
著者 (8件):
資料名:
巻: 117  号: 172(ED2017 27-35)  ページ: 41-44  発行年: 2017年08月02日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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分類 (3件):
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神経系の診断  ,  医用画像処理  ,  撮像・録画装置 
引用文献 (14件):
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