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J-GLOBAL ID：201802214546561167   整理番号：18A1797521

大気中光電子収量分光装置を用いた有機半導体材料の固体・薄膜状態でのエネルギー準位の測定法

著者 (5件)： 小汲佳祐 (都産技研) ,  藤巻康人 (都産技研) ,  中川貴文 (東大 大学院) ,  松尾豊 (東大 大学院) ,  松尾豊 (中国科技大)
資料名： 日本分析化学会年会講演要旨集  (分析化学講演要旨集)
巻： 67th  ページ： 303  発行年： 2018年08月29日 
JST資料番号： G0563B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *有機半導体 ,  *エネルギー準位 ,  *光電子分光法 ,  *表面分析 ,  紫外可視吸収スペクトル ,  近赤外スペクトル ,  光吸収スペクトル ,  *ポルフィリン錯体 ,  HOMO ,  バンドギャップ ,  LUMO ,  置換基効果 ,  分子間相互作用 ,  近赤外吸収スペクトル ,  *光電子収率分光法 ,  スタッキング相互作用
準シソーラス用語： π-πスタッキング

分類 (3件)： 有機化合物の物理分析  (CC03034A) ,  八員環以上の複素環化合物  (CF07120T) ,  分子の電子構造  (BH05010Q)

タイトルに関連する用語 (9件)： 大気中 ,  光電子 ,  収量 ,  分光装置 ,  有機半導体材料 ,  固体 ,  薄膜 ,  エネルギー準位 ,  測定法