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J-GLOBAL ID：201802227349889067   整理番号：18A1182718

銀イオン交換/内包析出法による高レベル放射性廃棄物固化ガラス中の金属Pdの回収

著者 (4件)： 緑川美桜 (東京工大) ,  岸哲生 (東京工大) ,  松下伸広 (東京工大) ,  矢野哲司 (東京工大)
資料名： 日本セラミックス協会年会講演予稿集(CD-ROM)
巻： 2018  ページ： ROMBUNNO.1P130  発行年： 2018年03月01日 
JST資料番号： X0505B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： イオン交換 ,  金属イオン ,  *パラジウム ,  *ガラス固化 ,  析出 ,  包接化合物 ,  *回収 ,  回収率 ,  比率 ,  蛍光X線分析 ,  走査電子顕微鏡 ,  銀イオン ,  *高レベル放射性廃棄物 ,  電界放出型走査電子顕微鏡
準シソーラス用語： *高レベル廃棄物 ,  抽出率 ,  FE-SEM

分類 (1件)： 放射性廃棄物  (MB05000Y)

タイトルに関連する用語 (7件)： 銀イオン ,  内包 ,  析出 ,  高レベル放射性廃棄物 ,  固化 ,  ガラス ,  金属Pd