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J-GLOBAL ID：201802234250818580   整理番号：18A0697160

トポロジカル超伝導体Sr_xBi₂Se₃のレーザーARPESによる電子構造の測定

著者 (12件)： 都築章宏 (東大 物性研) ,  大田由一 (東大 物性研) ,  橋本嵩広 (東大 物性研) ,  長島椿 (東大 物性研) ,  橘和宗 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  竹田駿 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  渡部俊太郎 (東理大 総研) ,  CHEN C. T. (中国科技院) ,  近藤猛 (東大 物性研) ,  笹川崇男 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  岡崎浩三 (東大 物性研) ,  SHIN S. (東大 物性研)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 73  号： 1  ページ： ROMBUNNO.24pK402-1  発行年： 2018年03月23日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *角度分解分光法 ,  *光電子分光法 ,  *超伝導体 ,  電子構造 ,  ストロンチウム化合物 ,  ビスマス化合物 ,  セレン化物 ,  エネルギーギャップ ,  *トポロジカル超伝導体 ,  *ARPES ,  超伝導ギャップ

分類 (2件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  その他の超伝導体の物性  (BM04025Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： トポロジカル超伝導体 ,  レーザー ,  ARPES ,  電子構造