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J-GLOBAL ID：201802247623412440   整理番号：18A0696055

シリコン量子ドットにおける2スピン同時検出

著者 (8件)： 米田淳 (理研 CEMS) ,  武田健太 (理研 CEMS) ,  野入亮人 (理研 CEMS) ,  中島峻 (理研 CEMS) ,  大塚朋廣 (理研 CEMS) ,  LI Sen (理研 CEMS) ,  小寺哲夫 (東京工大) ,  樽茶清悟 (理研 CEMS)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 73  号： 1  ページ： ROMBUNNO.23aB402-9  発行年： 2018年03月23日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *量子ドット ,  ケイ素 ,  半導体材料 ,  ウエハ【IC】 ,  *電子スピン ,  Fermi面 ,  スペクトル線分裂 ,  励起状態 ,  *電気測定 ,  ESR【磁気共鳴】 ,  状態 ,  *検出 ,  *同時分析 ,  *二重量子ドット ,  Zeeman分裂 ,  スピン状態 ,  *スピン検出 ,  *同時検出 ,  シリコンウエハ ,  *電荷測定
準シソーラス用語： SiGe ,  ケイ素基板 ,  *電荷計測 ,  電子スピン共鳴

分類 (2件)： 半導体結晶の電子構造  (BM02060N) ,  その他の情報工学基礎理論  (JB06000C)

タイトルに関連する用語 (4件)： シリコン ,  量子ドット ,  スピン ,  同時検出