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J-GLOBAL ID：201802280912584145   整理番号：18A0630450

分布反射器を有する半導体薄膜光検出器の構造設計

著者 (8件)： ZHENG Xu (東京工大) ,  GU Zhichen (東京工大) ,  雨宮智宏 (東京工大) ,  雨宮智宏 (東京工大 科学技術創成研究院 未来産技研) ,  西山伸彦 (東京工大) ,  西山伸彦 (東京工大 科学技術創成研究院 未来産技研) ,  荒井滋久 (東京工大) ,  荒井滋久 (東京工大 科学技術創成研究院 未来産技研)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 65th  ページ： ROMBUNNO.17a-B203-2  発行年： 2018年03月05日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *半導体薄膜 ,  構造設計 ,  *反射器 ,  Bragg反射 ,  *赤外検出器 ,  ガリウム化合物 ,  インジウム化合物 ,  ヒ化物 ,  半導体材料 ,  フォトダイオード ,  PIN接合 ,  回折格子 ,  帯域幅
準シソーラス用語： PINフォトダイオード ,  *分布Bragg反射器

分類 (1件)： 赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W)

タイトルに関連する用語 (5件)： 分布 ,  反射器 ,  半導体薄膜 ,  光検出器 ,  構造設計