特許

J-GLOBAL ID：201803008638526570

データ処理装置、データ処理方法、及びデータ処理プログラム

発明者： 黒田 洋司 ,  清水 尚吾
出願人/特許権者： 学校法人明治大学
代理人 (4件)： 志賀 正武 ,  棚井 澄雄 ,  高橋 詔男 ,  五十嵐 光永
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-260076
公開番号（公開出願番号）：特開2015-118441
特許番号：特許第6281938号
出願日： 2013年12月17日
公開日（公表日）： 2015年06月25日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 第1のデータが示す第1の物体の表面の法線のうち、所定の密度よりも高密度で分布している領域の法線の代表を第1の法線主成分として算出する主成分算出部と、 第2のデータが示す第2の物体の表面の法線のうち、所定の密度よりも高密度で分布している領域の法線の代表である第2の法線主成分から、前記第1の法線主成分との近似の度合いに基づいて前記第1の法線主成分に対応する第2の法線主成分を定める対応部と、 前記第1の法線主成分の方向と前記第2の法線主成分の方向との間の相対的な方向を算出する相対方向算出部と、 を備え、 前記主成分算出部は、前記第1の物体の表面までの原点からの深さを大きさとして有する法線である第1の深さ付き法線のうち、予め定めた密度よりも高密度で分布している深さ付き法線の代表を第1の壁面主成分として算出し、 前記対応部は、前記第2の物体の表面までの原点からの深さを大きさとして有する法線である第2の深さ付き法線のうち、所定の密度よりも高密度で分布している領域の深さ付き法線の代表である第2の壁面主成分から、前記第1の壁面主成分との近似の度合いに基づいて前記第1の壁面主成分に対応する第2の壁面主成分を定め、 前記第1の壁面主成分と、当該第1の壁面主成分に対応する第2の壁面主成分との差分に基づいて前記第1の物体と前記第2の物体との間の相対的な位置を算出する相対並進位置算出部を、 さらに備えるデータ処理装置。

IPC (3件)：

G06T 7/00 ( 201 7.01) ,  G06T 7/521 ( 201 7.01) ,  G06T 7/70 ( 201 7.01)

FI (3件)：

G06T 7/00 C ,  G06T 7/521 ,  G06T 7/70 Z

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平4-119475
  
• 物体認識方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-262879   出願人：スズキ株式会社