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J-GLOBAL ID:201902216946241224   整理番号:19A1701446

X線光電子分光法を用いたII型Na-Siクラスレートの電子状態の研究

著者 (33件):
資料名:
巻: 74  号:ページ: ROMBUNNO.15pS-PS-9  発行年: 2019年03月22日 
JST資料番号: S0671C  ISSN: 2189-079X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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本研究ではNa-SiクラスレートTypeII(Na24Si136)における電子状態を調べるため、SPring-8にて硬X線光電子分光を行い、先行研究であるNa-SiクラスレートTypeIとの比較を行った...【本文一部表示】
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分類 (2件):
分類
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金属結晶の電子構造  ,  電子分光スペクトル 

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