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J-GLOBAL ID:201902243221160412   整理番号:19A2714953

X線散乱法と二次元相関法による液晶性ブロック共重合体ラメラ構造の解析

著者 (4件):
資料名:
巻: 74  号:ページ: ROMBUNNO.1B07  発行年: 2019年11月09日 
JST資料番号: L1827B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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【緒言】放射光を利用した小角X線散乱(SAXS)測定により、材料中の異方的な構造変化を追跡することができる。しかし、2成分の散乱ピークが重複して現れるとそれぞれの成分を解析することは難しい。二次元相関法により2成分間の強度変化の相関を解析す...【本文一部表示】
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分類 (5件):
分類
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高分子固体の構造と形態学  ,  共重合  ,  アクリル樹脂  ,  ポリエステル,アルキド  ,  液晶一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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