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J-GLOBAL ID：201902243295571090   整理番号：19A2913798

原子間力顕微鏡を用いた細胞外小胞に対するイオン枯渇領域の斥力影響の評価手法の開発

著者 (3件)： 茂木克雄 (産業技術総合研) ,  林田佳 (東京工大) ,  山本貴富喜 (東京工大)
資料名： 日本機械学会マイクロ・ナノ工学シンポジウム講演論文集(CD-ROM)  (日本機械学会マイクロ・ナノ工学シンポジウム(CD-ROM))
巻： 8th  ページ： ROMBUNNO.31pm3-PN-32  発行年： 2017年 
JST資料番号： L8358B  ISSN： 2432-9495  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： エクソソームのようなサブミクロンスケールの繊細な小胞を破損さ...

シソーラス用語： 原子間力顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： *細胞構成体

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分類 (1件)： 細胞構成体一般  (EF03010Z)

タイトルに関連する用語 (7件)： 原子間力顕微鏡 ,  細胞外小胞 ,  イオン ,  枯渇 ,  斥力 ,  評価手法 ,  開発