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J-GLOBAL ID:202002228066843770   整理番号:20A1071170

機械学習による多結晶シリコン基板の結晶方位推定

Crystallographic orientation prediction of multicrystalline silicon substrate using machine learning
著者 (8件):
資料名:
巻: 119  号: 454(IMQ2019 13-68)  ページ: 81-84  発行年: 2020年02月27日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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多結晶シリコン型太陽電池は単結晶シリコン型太陽電池と比較して安価であるが,結晶欠陥の影響で変換効率が低いという欠点がある.結晶欠陥の分析には結晶方位測定が重要であるが,一般的に用いられる結晶方位測定手法はシリコン基板全体の方位測定に時間とコストがかかるという問題がある.本研究では,結晶粒の光反射特性から基板全体の結晶方位を高速に推定する手法の開発を行った.工業用輝度計とコリメートライトを用いたシリコン基板の光反射特性を計測する装置を試作した.装置によって得られる輝度特徴から結晶方位を推定する回帰学習をLSTMニューラルネットワークを用いて行った.4795個の結晶粒の方位データを教師として5分割交差検証を行ったところ,推定誤差の中央値が6.23°という結果を得た.(著者抄録)
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分類 (3件):
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固体デバイス材料  ,  構造決定法・回折結晶学一般  ,  ニューロコンピュータ 
タイトルに関連する用語 (5件):
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