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J-GLOBAL ID：202002284046536356   整理番号：20A0175504

陽子線励起単色X線を励起源とした文化財分析用低線量XRF

著者 (5件)： 小栗慶之 (東京工大) ,  小林泰智 (東京工大) ,  長谷川純 (東京工大) ,  福田一志 (東京工大) ,  羽倉尚人 (東京都市大)
資料名： 日本原子力学会秋の大会予稿集(CD-ROM)  (日本原子力学会秋の大会(CD-ROM))
巻： 2019  ページ： ROMBUNNO.1M08  発行年： 2019年 
JST資料番号： S0818B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 金属標的へのMeV陽子線照射により発生した単色X線を励起源として模擬文化財試料中のコバルト(Co)のXRF分析実験を行い,PIXE法に比べて大幅に低い線量で同程度の検出下限が得られる見通しを得た.(著者抄録)

シソーラス用語： *蛍光X線分析 ,  陽子照射 ,  X線 ,  コバルト ,  PIXE分析 ,  *放射線量 ,  陽子ビーム ,  *文化財保護 ,  微量元素 ,  元素分析 ,  照射損傷 ,  単色X線 ,  低線量
準シソーラス用語： 文化財

著者キーワード (8件)： 文化財分析 ,  微量元素 ,  検出下限 ,  XRF ,  PIXE ,  放射線損傷 ,  吸収線量 ,  陽子線励起単色X線

分類 (1件)： その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 陽子線 ,  励起 ,  単色X線 ,  文化財 ,  分析 ,  低線量 ,  XRF