特許

J-GLOBAL ID：202003015344122742

光学装置

発明者： 森 信彦 ,  菅 延達 ,  伊藤 彰浩 ,  野澤 逸平 ,  深野 秀樹
出願人/特許権者： 株式会社エィ・ダブリュ・サービス ,  国立大学法人 岡山大学
代理人 (4件)： 西澤 和純 ,  伊藤 英輔 ,  長谷川 太一 ,  鎌田 康一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-180093
公開番号（公開出願番号）：特開2020-051841
出願日： 2018年09月26日
公開日（公表日）： 2020年04月02日
要約：

【課題】温度依存性を低減した光学装置を提供する。【解決手段】光学装置10は、光源からの測定光を測定部11に入射させて、測定対象物の特性を測定する。測定部11は、測定光が入射する入射部11aと、測定面11bと、測定面11bを経由した測定光が、測定部11の外部へと出射する出射部11cと、を備える。測定面11bの表面にはコーティング層12が設けられ、コーティング層12の屈折率は、温度の上昇に伴って増加する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

光源からの測定光を測定部に入射させて、測定対象物の特性を測定する光学装置であって、 前記測定部は、 前記測定光が入射する入射部と、 測定面と、 前記測定面を経由した前記測定光が、前記測定部の外部へと出射する出射部と、を備え、 前記測定面の表面にはコーティング層が設けられ、 前記コーティング層の屈折率は、温度の上昇に伴って増加する、光学装置。

IPC (1件)：

G01N 21/41

FI (1件)：

G01N21/41 A

Fターム (9件)：

2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059EE04 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 光ファイバ装置及びセンサシステム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2016-212379   出願人：国立大学法人岡山大学
• 光ファイバ式計測方法及び光ファイバ式計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2014-085015   出願人：国立大学法人岡山大学
• 特開平3-185402